الگوريتم جديد جهت استخراج پارامترهاي نويز دو دهانه‌هاي مايكروويو
محورهای موضوعی : مهندسی برق و کامپیوتر
عبدالعلی عبدی پور
1
(دانشگاه صنعتی امير كبير)
فرخ آرزم
2
(دانشگاه تهران)
کلید واژه: عدد نويزاستخراج پارامترهاي نويزاندازه‌گيری نويز و مدارات مايكروويو,
چکیده مقاله :
يكي از مباحث بسيار مهم در طراحي مدارات مايكروويو، مبحث نويز و استخراج پارامترهاي نويز مدار مي‌باشد. در اين مقاله روش جديدي در زمينه استخراج پارامترهاي نويز معرفي شده است. با استفاده از نتايج اندازه‌گيري مربوط به يك نوع ترانزيستور مايكروويو، نتايج اين روش با نتايج يكي از روش‌هاي معتبر مقايسه شده است.
One of the most important topics in designing the microwave circuits is the topic of noise and “noise parameter extraction of the circuits”. In this paper a new method is introduced for noise parameter extraction. The results of the new method are then compared with the results of one of the commonly used methods using the measured noise parameters of a microwave transistor
[1] C. A. Snowden (Ed.), Semiconductor Device Modeling, Springer- Verlag, 1989.
[2] J. A. Dobrowski, Introduction to Computer methods for Microwave Circuit Analysis and Design, Artech House, 1991.
[3] R. Q. Lane, "The determination of device noise parameters," Proc.IEEE, vol. 57, pp.1461-1462, Aug. 1969.
[4] L. Escotte, R. Plana, and J. Graffeuil, "Evaluation of noise parameter extraction methods," IEEE Trans on Microwave Theory Techniques, vol. 41, no. 3, pp. 382-387, Mar. 1993.
[5] M. Mitama, and H. Katoh, "An improved computational method for noise parameter measurements," IEEE Trans on Microwave Theory Techniques, vol. 27, no. 6, pp.612-615, Jun. 1979.
[6] G. I. Vasilescu, G. Alquie, and M. Kim, "Exact computation of twoport noise parameters," Electronic Letters, vol. 25, no. 4, pp. 292- 293, Feb. 1989.
[7] A. Boudiaf, M. Laporte, J. Dangla, and G. Vernet, "Accuracy improvements in two-port noise parameter extraction methods," IEEE MTT-S Int. Microwave Symp. Digest, vol. 3, pp. 1569-1572,1992.
[8] A. Boudiaf, and M. Laporte, "An accurate and repeatable technique for noise parameter measurements," IEEE Trans. IM. ,vol. 42, no. 2, pp. 532-537, Apr. 1993.